发布人: 时间:2019年10月09日
仪器名称:高分辨透射电子显微镜
英文名称:HRTEM
型号:FEI Talos F200X G2
主要规格及技术指标:
200KV下TEM信息分辨率:0.12nm
200KV下STEM分辨率: 0.16nm
主要功能及特色
BOX设计,人机分离操作;
稳定的电子枪和高压设计;
大极靴设计及恒功率物镜设计;
轴向的STEM探测器,可以同时成像;
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